原子力顯微鏡的相圖和高度圖有何不同？

　　原子力顯微鏡中的相圖和高度圖有一定的區別，比如顏色深淺等，當然樣品表面一定要很清潔，如果有灰塵或雜質一定會影響測試結果的。兩者的具體區別還要以實際的測試結果為準。這時它將與其相互作用，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現樣品的表面特性，從而達到檢測的目的、顯示及處理系統組成，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。

　　主要由帶針尖的微懸臂，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡可測量固體表面，是可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器，包括原子鍵合、干涉法等光學方法檢測。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉法（監控其運動的反饋回路、計算機控制的圖像采集），也可以觀察非導體。在納米尺度下對金屬、半導體、陶瓷、有機物、高分子、生物體等樣品的表面進行原位形貌的觀測及力學等物性的測試。